應用領域
用于食品包裝的多層塑料薄膜和片材。
阻隔薄膜/片材（層測量）
測量原理
KAPA（總厚度）
它基于非接觸式、間接厚度測量原理。傳感器和滾筒之間的電容取決于被測板材的電介質以及傳感器到滾筒之間的距離。為了消除傳感器與滾筒之間的距離波動的影響，使用渦流傳感器（與電容式傳感器位于同一外殼中）永久測量該距離。根據該測量距離對電容傳感器的結果進行校正。
IR（對于EVOH層）
它基于非接觸式傳輸測量原理。為了確定 EVOH 層厚度，記錄了塑料的寬紅外光譜，并使用我們的現代分析方法評估了 EVOH 聚合物分子的吸收情況。
咨詢電話：13522079385
技術規(guī)格：
技術數據 卡帕 紅外
測量系統 電容/渦流 紅外線的
厚度范圍 最大 3 毫米 > 5 微米*
測量間隙 4.4毫米 35毫米
傳感器分辨率 ≤0.1微米 0.5微米
重復性 ≤±0.5微米 ≤ 2 微米*
測量速度 10-300毫米/秒可調 25毫米/秒可調
校準 每種材料所必需的
